使用来自Bruker Nano的AcueyXR技术的光学分析仪的改进分辨率的示范

克里斯奥斯塔克从力量指出了ContourGT光学轮廓仪的主要特点,并简要介绍了它的工作原理。他还向我们展示了它如何在非常短的时间内进行测量,以及新的AcuityXR测量模式(在2010年MRS Fall会议上介绍的)如何由于增加的横向分辨率而产生改进的结果。

运行时间 - 4:13min

Bruker ContourGT光学轮廓仪的演示

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