视频|2008年秋天会议视频访谈

2008年秋季会议视频访谈视频

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演示CSM TTX台式纳米压宁测试仪

CSM TTX台式仪器是一款小型和简单易用的封装中的高性能纳米齿系测试仪(NHT)。它适用于常规的纳米齿检测,其中不需要完整的平台配置。

NTEGRA Aura SPM平台来自NT-MDT -关键功能

NT-MDT NTEGRA Aura系统是多功能SPM平台,可以多种方式修改,以适应各种样品类型以及采用不同类型的测量。

KP技术是如何使开尔文探测器工作的

KP科技的Iain D. Baikie教授解释了开尔文探测器的工作原理。

KP技术超高真空探针探头

来自KP Technology的Iain D. Baikie教授向我们展示了他们的超高真空开尔文探测器。它用于测量样品表面的变化,如可能的情况下,涂层的使用,由于温度的变化,可以适应与半导体使用。

CSM仪器的revtest Xpress划痕测试仪演示

revtest Xpress是工业和质量控制(QC)应用的一种经济有效的解决方案。该仪器提供了测量附着力,硬度和抗划伤性,非常友好,易于理解的界面。

Veeco的尺寸V原子力显微镜/纳米力学测试仪的关键特点和操作

Veeco公司的Dimension V结合了原子力显微镜(AFM)和纳米力学测试仪。这是通过一个专门设计的探针来实现的。它能够测量特性,如刚度,粘附和能量耗散,并提供AFM的成像能力。

来自CSM乐器的多功能纳米凸缘测试平台的展示

纳米弯曲平台是一个多功能系统,有两种配置可用,允许您构建设备量身定制的特定要求。您可以包含各种测试模块,例如:纳米和微观化;纳米和微克;和微/纳秒。您还可以选择成像系统成功作为:视频显微镜;AFM;或profilometer。

来自庇护研究的Cypher AFM -关键特征和能力

来自Asylum Research的Cypher AFM是过去十年里发布的最具革命性的小样本AFM。它的特点是一个环境室,高分辨率扫描仪提供亚埃分辨率和快速成像感谢小悬臂。

Agilent Technologies 7020 Zetaprobe的主要功能和功能

Agilent Technologies 7020 Zetaprobe测量Zeta悬浮液的电位。它可以迎合具有高固体载荷的样品,这可以消除稀释样品的需要。

通过XOS改进XRF和XRD分析的光学系统

XOS制造多毛细光学和双弯晶体光学。它们被用于x射线荧光、XRF(波长色散和能量色散、WDXRF和EDXRF系统)以及x射线衍射XRD系统,这些系统广泛应用于材料分析。欧洲杯足球竞彩这些光学系统的增加使仪器能够以更高的灵敏度分析较小的特征

来自NT-MDT的Solver Next SPM / AFM的关键特性和操作

这个简短的视频显示的关键功能和易于操作的求解NEXT SPM/AFM从NT-MDT。它的设计是为了让经验有限的操作人员能够进行质量测量。

安捷伦科技公司的Nicomp 380 ZLS粒度和Zeta电位分析仪

粒度通过动态光散射或DLS和TRHE NICOMP 380 ZLS测量,可以将颗粒从几纳米到微米测量。欧洲杯猜球平台

Nanosurf easyScan2 FlexAFM -关键功能

Nanosurf公司的Ola Modinger指出了他们的easyScan2 FlexAFM的一些关键特性。这些特性是在2008年秋季夫人会议上发布的。

Agilent Technologies的Accusizer 780激光衍射粒度分析仪

Agilent Technologies Accusizer 780是激光衍射粒度分析仪,可测量单个颗粒的尺寸以产生高精度粒度分布

Agilent G200 Nano Indenter的主要特点和功能

Nano Indenter G200是用于探索纳米和微观尺度的材料特性的最先进的平台。

来自AIST-NT的智能SPM / AFM - 易于使用演示

Marshall Bates和Andrey Krayev来自AIST-NT,展示了AIST SmartSpm / AFM的易用性。从加载样品以开始测量,可以在原子分辨率1-2分钟内完成

Agilent 5600大舞台AFM的功能和能力

Agilent 5600LS使用完全可寻址的200 mm x 200 mm级和新的低噪声AFM设计。

Veeco Dektak 150表面轮廓仪 - 主要特点

Veeco公司的Dektak 150表面轮廓仪使用触针轮廓测量技术,这是公认的表面形貌测量标准。

10GHz介电性能测量的分体式柱塞谐振器 - 安捷伦技术

安格伦科技公司的Shelley Begley演示了10GHz分裂圆柱谐振器如何能够测量低损耗材料、薄膜和衬底的介电特性。欧洲杯足球竞彩

Ambios Technology Q-View SPM /干涉仪 - 能力

Ambios科技公司的Rick Olds通过Q-View向我们展示。Q-View结合了扫描探针显微镜(SPM)和干涉仪,可在大、小区域进行表面粗糙度和形貌测量。

纳米氏easyscan2 Flexafm的易于操作的演示

来自Nanosurf的Ola Modinger向我们介绍了他们的easyScan2 FlexAFM,这是在2008年秋季夫人会议上发布的,并录制了这次采访。然后我们得到了这个仪器是多么容易操作的演示。

KP Technologies的扫描Kelvin探针 - 操作和能力

Iain D.Baikie从KP技术引入了扫描塞尔文探头,该探针测量振动尖端和样品之间的工作功能差异。它适用于分析金属,电子器件,图案化晶片,太阳能电池等,并且可以对AFM进行类似的功能

便携式网络分析仪,用于测量安捷伦技术液体液体特性

安捷伦技术的Shelley Begley演示了他们的便携式系统,用于确定液体的介电性能。围绕便携式网络分析仪和CA的系统中心用于测量诸如介电常数和损耗切线之类的性能。

anasys仪器的Vesta局部热分析系统的示范

Anasys Instruments的产品开发副总裁Kevin Kjoller演示了Vesta本地化热分析系统的使用程度。