视频| ICONN 2010访谈

ICONN 2010访谈视频

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费雪-克里普斯实验室介绍IBIS纳米压痕系统

Tony Fischer-Cripps解释了什么是纳米压痕，并向我们展示了IBIS的纳米压痕系统。

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NT-MDT的求解器NEXT SPM/AFM

NT-MDT的Nikolay Novozhilov带我们参观了他们的SOLVER NEXT AFM/SPM。他向我们展示了从AFM到SPM是多么容易，以及软件控制系统和扫描样品是多么容易。

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使用纳米线和自旋电子学创造超快计算机内存

斯图亚特·帕金博士从IBM阿尔马登研究中心告诉我们关于一个新类型的内存理论上一百万倍的速度比目前的硬盘技术,访问时间非常快,但同时非常便宜,连同许多固态记忆的好处。它被称为跑道存储器，使用纳米线和自旋电子学。

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维可图标原子力显微镜(AFM)

Mickael Febvre展示了Veeco Dimension Icon高性能原子力显微镜(AFM)。在大的样品阶段，它可以在各种大气中进行测量。

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PVA TePla等离子笔精密清洗操作

Demetrius Chrysostomou向我们展示了PVA TePla等离子笔，用于精密清洗表面和提高表面的表面能量之前的操作，如焊接或粘接。广泛应用于汽车、电子、平板等行业。

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解决建筑业空气污染的危害

AZoM与Camfil的英国总经理David Moulton谈论了该公司的空气过滤解决方案，以及它们如何帮助为建筑行业的人提供一个更安全的工作环境。

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M81同步源测量系统简介

在这次采访中，AZoM与Lake Shore Cryotronics的高级产品经理Chuck Cimino谈论了他们的M81同步源测量系统的好处。

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