一种快速、简便地测量薄膜性能的新装置

HORIBA Jobin Yvon推出AUtO SE,一种新的薄膜测量工具,允许全自动分析薄膜样品,只需简单的按钮操作。样品分析只需几秒钟,并提供完整的报告,薄膜厚度,光学常数,表面粗糙度,和薄膜不均匀性。

来自Horiba Jobin Yvon的仿制物。

Auto SE是一种功能强大的仪器,包括自动XYZ阶段,实时成像测量现场和自动选择光斑大小。许多配件可供选择,以适应广泛的应用。

Auto SE包括内置诊断指示器,用于自动检测和诊断问题,具有全面的操作员指南进行故障排除。

Auto SE是常规薄膜测量和设备质量控制的理想交钥匙仪器。

引用

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    HORIBA科学。(2019年2月10日)。一种快速、简便地测量薄膜性能的新装置。AZoM。2021年6月28日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=11716获取。

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    HORIBA科学。快速简便地测量薄膜性能的新装置。AZoM.2021年6月28日。

  • 芝加哥

    HORIBA科学。快速简便地测量薄膜性能的新装置。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=11716。(访问2021年6月28日)。

  • 哈佛大学

    HORIBA科学》2019。一种快速、简便地测量薄膜性能的新装置.AZoM, 2021年6月28日观看,//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=11716。

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