微粒学新型TriStar II 3020是一款全自动的三工位表面积和孔隙度分析仪，能够提高质量控制分析的速度和效率，具有准确性、分辨率和数据精简，以满足大多数研究需求。TriStar II结合了分析方法、数据缩减和报告的多功能性，允许用户针对特定应用优化分析。
新的Tristar II具有专用的PO端口，允许连续测量饱和压力。三个分析端口同时运行，彼此独立。2.75升露天和延长长度样品管允许收集完全吸附和解吸等温度，无需操作员干预。Tristar II可以收集多达1000个数据点。可以观察到等温线的细节，并记录提供高分辨率和露出孔隙结构细节。Tristar II还具有Krypton选项，允许在非常低的表面积范围内精确测量。