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CRAIC技术发射声波测量和地质学高级光计

发自CRAIC技术2008年4月17日

CRAIC技术公司面向应用微分析解决方案的全球领先者宣布启动新的QDIMP1TM显微分光计QDIMP1TM系统是所有固态系统,设计用于矿物学和细胞摄影学等字段微粒测量粗糙仪表可快速精确测量反射、传输或荧光光值

QDIMP1TM显像仪设计用于生物和地质等多领域样本的光度分析系统除测量发射光外还能够反射或传输光度分析微镜QDIMP1TM表示下一代微光度仪表,Jumi Lee,CRAIC技术公司副总裁QDIMP1TM向科学家提供弹性、敏感度和精度,

QDIMP1TM显像仪高级设计中包括敏感检测器,可在紫外线、可见和NIR区域操作,数字成像系统同时图像样本和测量孔径由高先进软件操作,控制工具从基本集成时间到宽频测量的方方面面系统完全灵活并提供多条升级路径,包括全射线光谱检查、热电冷却提高长期稳定性、超高分辨率成像、高级光谱分析、NIST可追踪标准甚至全自动化

并加QDIMP1TM系统后, CRAIC技术拓展高性能工具组支持高级科学研究

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CRAIC技术2019年2月10日CRAIC技术发射高级显像仪量测和地质AZOM2021年7月16日检索网站s://www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=11943
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