Horiba Scientific独特自动SE赢得了2008 IC行业新系统奖

Horiba Scientific很高兴宣布独特的自动SE为2008 IC行业新系统奖的获奖者。

IC行业奖是一个公认的平台,可让半导体行业判断为行业服务的产品和实践。

新的自动SE是唯一一个简单的集成光谱椭圆机解决方案,用于确定薄层和多层的厚度和光学常数。

这个新的薄膜测量工具旨在满足薄膜质量控制要求。它提供完整的自动化(加载,对齐,映射),自动选择8个不同的斑点尺寸低至25x60 µm,以及独特的集成视觉系统。它由直观的自动软软件控制,该软件可实现按钮薄膜分析进行常规操作,并具有高级工程和服务模式,可用于表征新材料。欧洲杯足球竞彩

“我们认为,自动SE是光谱椭圆法的主要转折点,因为它非常快速,简单地提供准确的薄膜质量控制。Myautoview视觉系统的独特成像能力准确地显示了放置测量点的位置,因此它是表征图案样品的理想选择。我们很荣幸能代表薄膜部门获得该奖项,因为自动SE是所有薄膜工作人员不断努力的结果。

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    Horiba Scientific。(2018年1月10日)。Horiba Scientific独特的自动SE赢得了2008年IC行业新系统奖。azom。于2022年6月20日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=14065检索。

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  • 芝加哥

    Horiba Scientific。“ Horiba Scientific独特自动SE赢得了2008年IC行业新系统奖”。azom。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=14065。(2022年6月20日访问)。

  • 哈佛大学

    Horiba Scientific。2018。Horiba Scientific独特自动SE赢得了2008 IC行业新系统奖。Azom,2022年6月20日,https://www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=14065。

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