2008年10月22日
新的X-MET5100 X射线荧光（XRF）分析仪将手持分析性能提高到了全新的水平。
X-MET5100手持XRF分析仪能够分析光元素。
X-MET5100组合牛津乐器具有强大的45kV X射线管的开创性硅漂移检测器（SDD）。这种尖端技术可提供快速，高度准确的测量，并使光元素（例如MG，AL和SI）进行测量，而无需复杂的真空泵或氦气罐附件 - 对于手持X射线荧光分析，这确实是向前迈出的一步。。
PMI检查员，废墟分子，尤其是航空航天行业终于拥有了他们一直在等待的强大的XRF轻型元素移动测试工具。X-MET5100确保了铝和钛合金的实验室质量分析，以及具有无与伦比的光元素能力和灵敏度的铜，镍和钢。
SDD，45 kV X射线管和可追溯的经验校准的强大组合意味着X-MET5100可以在短短1秒内准确地分析和识别金属合金。受限的元素，在玩具中引导，土壤中的污染物和矿石中的污染物可以以先前无法速度准确测量。痕迹元素结果（降至PPM级别）只能在短短几秒钟内实现。X-MET5100的无与伦比的速度和准确性可确保可信赖的实时结果的高吞吐量。
X-MET5100称赞牛津仪器已经非常成功的X-MET5000引入了今年早些时候用于常规的多元素分析。这两种仪器均经过IP54（NEMA 3）批准用于粉尘和水溅保护，并旨在承受最恶劣的分析条件。
X-MET5100将于9月21日至25日在拉斯维加斯举行的国际钛会议和展览会上展出，并在9月22日至25日，德国艾森，艾森，铝世界贸易展览会和会议上，9月22日至25日，厅1G11，1G11，厅1。