硬盘组件的痕量有机和无机污染物极难通过当前方法检测。通用技术（例如使用光学显微镜检查）不会显示任何影响产品的污染。Craic Technologies，Inc是以应用为重点的微分析解决方案的全球领导者，已经开发了仪器和软件，使硬盘生产能够快速检测污染。
来自CRAIC技术的QDI 2010™微光谱仪已配置，以便可以将其用于定位和识别污染物的来源。这是通过将两种紫外线显微镜光谱成像与紫外可见的-NIR微光谱镜的分析能力相结合来完成的。CRAIC Technologies QDI 2010™微光谱仪以单个，易于使用，具有成本效益的工具为特色。
在硬盘中发现的许多有机和无机污染物在紫外线中吸收光，但肉眼看不见。这意味着标准光学显微镜将无法检测到这些污染物，也无法分析它们。在其他技术可用的同时，它们需要大量的样品准备，并可能损坏样品。
通过利用QDI 2010™的紫外线成像，用户能够快速，轻松，无损地找到许多污染物。然后可以使用QDI 2010™进行UV微光谱镜检查，以测量污染物的电子光谱特性，以识别它。光谱也可以通过确定最大吸光度的波长来进一步提高污染物图像的清晰度。
通过在QDI 2010™微光谱仪中结合两种技术，用户可以轻松地在硬盘驱动器组件（例如读取式磁盘头）中找到和识别污染物的材料。欧洲杯足球竞彩QDI 2010™微光谱仪是有史以来第一个将UV显微镜和微光谱镜结合在单个工具中的系统。它也可以升级以实现紫外线，可见和接近红外反射率，透射率和荧光显微镜和显微镜检查。