Keithley Instruments，Inc。（NYSE：KEI）是高级电气测试仪器和系统的全球领导者，将播放一个免费的，基于网络的研讨会，名为“半导体电容 - 电容 - 基本原理”，该研讨会将由电子设计杂志提供。Keithley的半导体测量小组的高级人员技术专家Lee Stauffer将介绍网络研讨会，并在最后从听众那里提出问题。
网络研讨会将于6月2日（星期二）下午2:00播出。ET（PT上午11:00）。本一小时的研讨会旨在引入与半导体设备和材料表征相关的C-V测量主题。欧洲杯足球竞彩要注册此活动，请访问http://tiny.cc/oj6zm。
C-V测试通常用于确定半导体参数，例如掺杂曲线，界面状态的密度，阈值电压，氧化物电荷和载体寿命。Keithley网络研讨会的目标是针对半导体材料和设备测试，过程和设备工程师的工程师，他们希望刷新他们对这种测试方法的了解以及表征实验室经理。欧洲杯足球竞彩参加研讨会的人将了解C-V测试是什么，可以使用设备C-V测试的类型来表征，可以使用它以及与进行C-V测量相关的挑战。
Lee Stauffer是位于俄亥俄州克利夫兰的Keithley Instruments半导体测量小组的高级人员技术专家。在加入Keithley之前，他的职业生涯包括设计卫星通信系统，以及半导体工厂的设备和产品工程。2020欧洲杯下注官网