X-Max大面积硅漂移探测器使TEM性能最大化

牛津仪器革命性的X-Max大面积硅漂移探测器(SDD)现在可用于分析TEM。结合INCAEnergy TEM软件,X-Max能够在无液氮环境下处理高计数率,确保TEM的性能最大化。

  • 80mm2传感器保证高计数,提供优良的分析性能,包括和Be。这种灵敏度为纳米粒子和其他纳米特征的分析提供了潜力。欧洲杯猜球平台
  • 与Si(Li)探测器相比,在超过100,000cps的高计数率下保持了出色的分辨率。这些更快的采集速率允许在较厚的样品中进行绘图和线扫描,在这些样品中,高计数通常会导致Si(Li)探测器缩回或关闭快门。没有必要降低光束电流。高质量的x射线图和线扫描仪可以更快地收集。
  • Max是用peltier冷却的,不需要液氮,这使得探测器可以在几秒钟内冷却下来,因此随时可以进行分析。它没有移动部件或沸腾的LN2引起振动和一个电动滑块被用来从高电子通量的探测器在低磁模式。

X-Max TEM安全、方便、环保。几何体已经被优化以适应大多数专业工程师。

牛津仪器全球EDS产品经理Neil Rowlands评论道:“X-Max 80mm2探测器彻底改变了SEM纳米级的EDS分析,我们使用X-Max TEM探测器的结果表明,我们可以实现类似的TEM性能显著改善。”

引用

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  • 美国心理学协会

    牛津仪器NanoAnalysis。(2019年2月10日)。X-Max大面积硅漂移探测器使TEM性能最大化。AZoM。于2021年8月26日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=18335检索。

  • MLA

    牛津仪器NanoAnalysis。“X-Max大面积硅漂移探测器使TEM性能最大化”。AZoM.2021年8月26日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=18335 >。

  • 芝加哥

    牛津仪器NanoAnalysis。“X-Max大面积硅漂移探测器使TEM性能最大化”。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=18335。(2021年8月26日生效)。

  • 哈佛大学

    牛津仪器NanoAnalysis。2019.X-Max大面积硅漂移探测器使TEM性能最大化.viewed september 21, //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=18335。

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