英国该公司为其革命性的REVO五轴测量系统增加了一个新的探头选项，这是首次允许表面光洁度检测完全集成到三坐标测量程序中。
REVO®表面光洁度探头
SFP1表面光洁度探头具有6.3至0.05 Ra的测量能力，它提供了一个独特的“单一平台”，无需使用手持传感器，也无需将零件移动到昂贵的专用表面光洁度测量机，减少了人工成本和检验周期。三坐标测量机用户现在可以在零件扫描和表面光洁度测量之间自动切换，所有分析都包含在一个测量报告中。
高质量的表面处理数据
作为REVO五轴测量系统的完全集成选项，SFP1表面光洁度探头的用户将受益于一系列强大的功能，提高了检测速度和灵活性。
该探头具有C轴，结合REVO测量头的无限定位能力和可选择的触头支架，允许探头尖端自动定位到适合零件的任何角度，确保获得最高质量的表面数据。SFP1配备了两个专用触头支架，SFS-1直触头和SFS-2曲柄触头，它们是在使用REVO系统的模块化机架系统(MRS)的全测量程序控制下选择的。这使得能够灵活地访问组件功能，并结合了全自动数控方法的一致性。
自动化表面光洁度探头校准
传感器的校准也是自动化的，并在三坐标测量机软件程序内进行。一种新的表面光洁度校准工件(SFA)安装在MRS机架上，并使用SFP1探头进行测量。软件然后根据工件的校准值调整探头内的参数。
SFP1表面光面探针采用2µm (0.000079 in)半径的金刚石触头，采用i+ + DME协议，通过Renishaw公司的UCCServer软件向计量应用客户端软件输出Ra、RMS和原始数据格式。原始数据随后可以提交到专业的表面分析软件包进行进一步的详细报告。