布鲁克介绍了新的台式EDXRF光谱仪在Analytica

在分析2010年,力量中心——AXS今天发布了其显著增强的S2 RANGER能量色散x射线荧光(EDXRF)光谱仪,配有新的,免维护的第四代XFlash LE硅漂移探测器(SDD)。XFlash LE SDD与50 W激励功率的结合消除了台式EDXRF系统对轻元素(如钠和镁)的传统限制。

S2 RANGER能量色散x射线荧光光谱仪,带有XFlash®LE探测器和28位xy自动进样器。

这种性能的提高将S2 RANGER的应用范围进一步扩展到食品、矿产和采矿以及水泥行业。S2 RANGER目前完全符合ISO 29581和EN 196-2等国际标准,与传统的EDXRF和低功率波长色散x射线荧光(WDXRF)系统相比,其测量精度更高,测量时间更短。采用XFlash LE SDD的S2 RANGER的水泥量化交钥匙软件解决方案为水泥和原材料量化提供了强大的性能。欧洲杯足球竞彩

坚固和紧凑的一体化设计,内置真空泵,使新的S2 RANGER成为工业过程和质量控制的理想系统。它现在甚至适合作为一个后备分析仪的大型,高功率WDXRF系统。
S2 RANGER的流行特点包括使用标准的EQUA ALL方法进行材料识别和元素定量的真实多元素分析。还包括一个简单操作的触摸屏界面,现在有多种语言,包括英语、西班牙语、汉语、俄语和葡萄牙语。

Bruker AXS的XRF产品经理Kai Behrens博士表示:“新S2 RANGER与XFlash LE将EDXRF的极限推向了一个更高的水平。令人信服的元素定量产品,如奶粉,长石,石灰石和水泥材料是新S2 RANGER优越的轻元素性能的完美证明。欧洲杯足球竞彩事实上,S2 RANGER已经成为市场上所有低功率波长色散XRF系统的一个非常有吸引力和强大的替代方案,用于快速和精确的元件量化。”

引用

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  • 美国心理学协会

    力量纳米表面。(2019年2月10日)。布鲁克介绍了新的台式EDXRF光谱仪在Analytica。AZoM。于2021年7月6日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=21056检索。

  • MLA

    力量纳米表面。“布鲁克在Analytica公司推出新型台式EDXRF光谱仪”。AZoM.2021年7月6日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=21056 >。

  • 芝加哥

    力量纳米表面。“布鲁克在Analytica公司推出新型台式EDXRF光谱仪”。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=21056。(2021年7月6日生效)。

  • 哈佛大学

    布鲁克纳米表面。布鲁克介绍了新的台式EDXRF光谱仪在Analytica.viewed september 21, //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=21056。

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