美国耶尔很高兴地宣布，现在可以使用新的冷场排放枪用于原子分析分析JEM-ARM200F传输电子显微镜（TEM）。ARM200F于2009年推出，为高级异常校正的S/TEM技术设定了新的基准，该技术在同类产品中提供了最高分辨率。
现在配备了可选的和可恢复的冷FEG，ARM200F的超高成像分辨率在78个皮仪中保证，能量分辨率为0.3 eV。冷FEG的较高亮度和较小的源尺寸产生的较小，更清晰的电子探针具有较大的探针电流，从而增强了原子原子成像和化学分析。此外，从冷FEG发出的电子的狭窄能量传播可以对鳗鱼细结构进行原子分辨率分析，这些分析可用于确定诸如电子特性之类的东西。电子源附近的超高真空可确保电子探针电流的高稳定性，而高电气系统的稳定性为10-7，可维持电子探针的非常狭窄的能量传播。
“在手臂家族中加入冷FEG为原子量表成像和表征增添了另一个箭头。这种增强使得可以通过以前从未见过的准确性，速度和舒适进行子角色成像和原子柱化学，从未见过，“美国JEOL美国TEM产品部主任托马斯·伊莎贝尔（Thomas Isabell）博士说。
JEOL ARM200F电子柱将冷FEG，S/TEM和CS校正整合在无与伦比的超稳定设计中。上屏蔽保护措施超高动力的光学器件免受气流，振动，声学，磁性，电子和热干扰的影响。
美国第一个带有冷FEG的ARM200F将安装在佛罗里达州立大学的应用超导性中心，该中心位于国家高磁场实验室。