希登分析发布了他们的新小册子，详细介绍了SIMS/SNMS工作站用于高灵敏度静态和动态表面分析的最新功能。适用的技术范围从光伏，冶金，半导体和薄膜研究到地质和宝石特征。
超高真空样品加载和样品转移阶段与快速进入负荷锁定，可以预加载和重新加载多个样品，以最佳的成本效益运行效率。该系统具有精细聚焦的氧、氩和铯离子源，可提供正电和负电物质的元素分析，高透射质谱检测器还具有SNMS模式，可测量二次中性，提供精确的数据量化。质量范围可选到1000amu，对最低分子量的硼、铍和锂，直到单原子氢保持特殊的灵敏度。
所有质谱仪和离子枪控制参数完全软件集成，可预编程下拉菜单，为各种分析要求提供快速和自动化操作。元素成像由可选的ESM元素表面映射套件提供，以实时识别所有相关物种的多层表面位置和分布。
有关所有隐藏分析产品的小册子和进一步信息，请与隐藏分析联系[电子邮件受保护]或访问主要网站www.hidenanalytical.com.