新分光光度计Craic分析像素集中

CRAIC技术UV-visible-NIR显微镜和显微分光计的主要制造商,高兴地宣布308年FPD:分光光度计旨在分析每个像素的颜色和相对强度的集中。

系统高度探针台或显微镜使您能够获取颜色数据和相对强度比较所有类型的平板显示器。还能够测量光谱在微米范围内,308年的FPD可以映射变化由于色差,执行pixel-to-pixel比较,甚至可以映射在单个像素的光谱变化。与添加CRAIC技术QDI FilmPro软件,308年FPD还可以测量薄膜厚度,甚至细胞间隙厚度。这为显示制造商提供了一个无与伦比的能力,优化和改善他们的平板显示器制造过程与多方面的测试解决方案:308年的火焰分光光度计。

“我们的许多客户想要测量平板显示器上更小的特性。与我们的光谱和成像技术在微米尺度的经验,发展308年FPD是一个合乎逻辑的步骤CRAIC技术”总裁保罗•马丁博士说。“308年FPD特性我们专有Lightblades分光光度计技术改进的性能和增强灵活性。这个系统允许比色法,光谱法和强度测量微米尺度上常见的先进的高分辨率显示器。308年的火焰也可以配置为测量薄膜厚度以及成像。这允许测试显示的许多方面的一个乐器。”

308 FPD解决方案结合了先进的Lightblades分光光度计和复杂的光学软件让用户测量光谱,比色法、光强度和膜厚度在微米尺度。作为最小的像素现在10微米的数量级,308 FPD不仅能够衡量整个显示器的颜色和强度也比较像素到像素,甚至在地图上标出更改在单个像素。用于生产环境中,它可以将自动测量功能,触摸屏控制,容易修改处理配方和复杂的数据分析工具。

引用

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  • 美国心理学协会

    CRAIC技术。(2019年2月10日)。新分光光度计Craic分析像素集中。AZoM。检索2022年1月19日,来自//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=25508。

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    CRAIC技术。“新从Craic分光光度计分析像素集中”。AZoM。2022年1月19日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=25508 >。

  • 芝加哥

    CRAIC技术。“新从Craic分光光度计分析像素集中”。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=25508。(2022年1月19日访问)。

  • 哈佛大学

    CRAIC技术。2019。新分光光度计Craic分析像素集中。AZoM, 2022年1月19日,//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=25508。

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