新的WITec真表面显微镜模式是2011年Pittcon会议和技术展览上最杰出的新产品的2011编辑选择金奖(14 -17)。2011年3月,亚特兰大,乔治亚州)。
编辑选择奖由在pitcon注册的近200名编辑组成的评审团选出，表彰展会上最重要和最重要的技术进步。选择真表面显微镜是因为它能够简化大、粗糙或倾斜样品的拉曼成像过程。
WITec董事总经理Joachim Koenen博士说:“我们非常高兴，几乎是受宠欲惊。”“这是我们继续坚持不断引进新技术，为客户的研究提供尖端技术的成功理念的巨大动力。”
WITec的新真表面显微镜模式允许由表面形貌引导的共焦拉曼成像。真表面显微术跟踪高精度的表面形貌，使即使粗糙或倾斜的样品在进行共焦拉曼成像时始终保持焦点。为了实现这种独特的功能，WITec alpha500系列集成了一个高度精确的光学轮廓测量传感器。在共焦拉曼成像模式下，利用轮廓仪测量得到的地形坐标来完美地跟踪样品表面。
其结果是一张显示样品表面光学或化学性质的图像，即使这个表面非常粗糙或严重倾斜。到目前为止，在这样的表面上，这种信息只能部分获取，有了新的成像模式，以前需要大量准备以获得一定的表面平整度的样品现在可以毫不费力地自动表征它们。
来源:www.WITec.de