CRAIC技术,UV-visible-NIR显微镜解决方案的世界领先的创新者,是自豪地介绍20/20 XL UV-visible-NIR显微分光光度计。
20/20 XL显微分光光度计设计无损分析的微观特性非常大的显示通过将大规模样品处理的能力。与深紫外到近红外的光谱范围,可以通过吸光度分析样本,反射率、发光和荧光以无与伦比的速度和准确性。
系统还可以被配置为图像显微样品在紫外成像和近红外光谱区域除了颜色。由于其灵活的设计使它能够分析最大的显示器,众多,包括应用程序映射颜色和强度变化,膜厚度测量,甚至扫描显示组件的表面缺陷。与能力谱分析和图像的显微特征非常大的设备,20/20 XL显微分光光度计是实验室和生产设施先进的微观分析工具。
“CRAIC技术一直是一个领域的创新者UV-visible-NIR微量分析成立以来。我们帮助推进领域的微尺度分析与创新仪器、软件、研究和教学。20/20 XL显微分光光度计出生的工业客户的需求能够分析微观特性的非常大的总裁保罗•马丁博士,显示“CRAIC技术。”因此,我们已经听了我们的客户和创造了20/20 XL,系统支持的多年的经验在设计、建设和仪器的使用这种类型的光谱和图像分析。”
20/20 XL显微分光光度计与复杂的集成先进的分光光度计UV-visible-NIR显微镜和强大,易于使用的软件。这种灵活的仪器设计附加到大样本处理帧,这样即使是最大的显示器可能进行了分析。它能够获得非常大的数据从微观特征样本通过吸光度,反射甚至发光光谱,除了microcolorimetry,膜厚度测量,甚至在紫外线成像,可见光和近红外区域。触摸屏控制,复杂的软件,校准可变光阑和其他创新都指向一个新的水平微量分析的复杂性。具有灵敏度高、耐用设计,易用性,多个成像和光谱技术,自动化和CRAIC技术的支持,20/20 XL不仅仅是一个质量控制测量工具…这是你的分析挑战的解决方案。