CRAIC半导体产业技术开发了一种新的解决方案:20/20 XL膜厚度测量工具。20/20 XL是无损分析微观显微分光光度计的设计领域非常大的样本。该系统提供的能力测量薄膜的厚度在传输和反射。
它还提供了能够测量微小样品的拉曼光谱,紫外和近红外显微镜的半导体和其他类型的样品。由于其灵活的设计,使它能够分析最大的样本,应用程序有很多,包括映射薄膜厚度的大型设备,定位和识别污染物,测量应变硅等等。与光谱分析的能力和图像显微样本或大型设备上的微观领域,20/20 XL显微分光光度计是先进的微观分析工具—设施。
“CRAIC技术一直是一个领域的创新者UV-visible-NIR微量分析成立以来。我们帮助推进领域的微尺度分析与创新仪器、软件、研究和教学。20/20 XL显微分光光度计出生的工业客户的需求能够微观特性非常大的设备由小点膜厚度测量、拉曼显微镜和光谱成像从深紫外到近红外”保罗•马丁博士,总裁CRAIC技术。”因此,我们已经听了我们的客户和创造了20/20 XL,系统支持的多年的经验在设计、建设和仪器的使用这种类型的光谱和图像分析。”
20/20 XL显微分光光度计提供了一个先进的膜厚度测量装置,拉曼光谱仪,一系列复杂的UV-visible-NIR显微镜,高分辨率数字成像和强大,易于使用的软件。这个灵活的仪器的目的是连接到大框架能满足大规模样本。它能够获得非常大的数据从微观特征样本通过吸光度,反射甚至发光光谱。包括高分辨率数字成像技术,用户也可以使用仪器紫外或红外显微镜。此外,CRAIC阿波罗拉曼光谱模块可以添加的用户也可以获得小的拉曼光谱。触摸屏控制,复杂的软件,校准可变光阑和其他创新都指向一个新的水平微量分析的复杂性。具有灵敏度高、耐用设计,易用性,多个成像和光谱技术,自动化和CRAIC技术的支持,20/20 XL不仅仅是一个质量控制测量工具…这是你的分析挑战的解决方案。
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