希登SIMS螺栓式质谱仪和离子枪使完整的SIMS设备能够添加到各种特高压表面分析设备中，最新的Hiden EQS探头现在提供了集成的SNMS模式，提供溅射中性和二次离子质谱的双重作用。
一个完整的SIMS设施安装在一个单一的conflat法兰上。
这两种技术有利于测量光学和冶金涂层、合金、腐蚀层和建筑涂层，例如，可以直接定量的浓度范围从微量水平到100%。
探针直接进入区域的高透明度电子撞击电离器确保了溅射中性的高效电离和二次离子的最佳传输效率。SIMS和SNMS都可以在连续的测量序列中进行组合，通过最宽的浓度范围提供量化的深度剖面数据。
整个产品系列包括气体和金属源离子枪。探针和离子枪都需要一个直径仅为38毫米(1.5英寸)的腔室安装端口。
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