B＆W TEK，生产光学光谱和激光系统的先进仪器公司很高兴自公司于1997年成立以来其第18届专利。
最新专利已被授予设计直接安装到标准显微镜的光谱探针，以便将光谱功能添加到显微镜，并最小地改变显微镜的光路。
当便携式拉曼光谱仪最初连接到标准显微镜时，为了将它们转换为拉曼显微镜，它创造了比传统的拉曼显微镜更小的形状因子，但以成本为代价。为了容纳所附拉曼光谱仪，必须对显微镜的光路进行修改，这影响了显微镜的原始功能。
来自B＆W TEK的创新探头设计能够解决这些问题。纤维探针直接安装在标准显微镜的物镜上方，以添加光谱功能。它由最小的光学组件组成，并且足够紧凑，显微镜光路必须几乎不需要改变。使用易于可重新配置的不同激发波长，探针和显微镜能够进行微采样，拉曼分析和荧光分析。
“我们很高兴收到了第18届奖励专利，”B＆W Tek的拉曼产品专家Travis Thompson说。“这些类型的创新不仅在便携式光谱的切削刃上保持B＆W TEK，而且还允许我们使我们的客户能够在以前认为可能进行测量。例如，这项技术允许考古学家在现场进行拉曼微分析衡量洞穴艺术等东西，甚至是古代教堂的天花板上的画作。“
要查看美国专利颁发给B＆W Tek的官方专利，对于“显微镜上的光纤探头”专利号US 8,135,249，请通过致电302-368-7924与我们的销售专家联系。