著名的用于电子显微镜和其他真空室的vacutron®de - contamination Plasma Cleaning System的制造商XEI Scientific Inc宣布，他们已经开始发货vacutron TEM Wand™系统。
专门设计的真空TEM Wand能够将经过验证的下游等离子体清洗技术有效地传输到透射电子显微镜(TEM)的关键区域，使得显微镜工作者能够轻松地清洗显微镜的样品导入、角计和极片区域。去除不需要的碳污染提供了更清晰的图像和数据，没有人为因素。
XEI Scientific的新真空TEM棒显示远程局部等离子体。
Ron叶片XEI总裁兼创始人,“既然我们已经交付系统,两艘日本制造商显微镜以及终端用户的客户,我们期待广泛采用这些工具就像我们看到Evactron系统扫描电子显微镜和双光束小谎。此外，我们对局部等离子体清洗概念感到兴奋，在这个概念中，可能不需要清洗整个真空系统，但只清洗关键区域更有效。我们认为，这种本地化解决方案在其他市场也有价值，减少了对高功率和长清洗时间的需求。”
XEI Scientific将于7月29日至8月2日在凤凰城举行的显微与显微分析会议上展出。除了XEI展位#520，抽真空除污染系统也将在卡尔蔡司展会(展位#604)Merlin SEM上展出。请访问我们，并了解最新的解决方案，在桌面和电子显微镜等离子清洗。
目前，XEI已经在全球销售了近1400个vactron系统，使用电子显微镜、FIBs和其他真空样品室设置等仪器，解决了许多不同环境中的污染问题。详情请浏览我们的网站，http://www.evactron.com/．