由于有了一种新的、简单的方法来纠正常见的仪器误差，现在可以更精确地测量不同波长的光的强度。这项新方法是由美国国立卫生研究院的研究人员开发的美国国家标准与技术研究所这将有利于色彩测量、照明发展、遥感、生物技术和天文学等领域。
NIST的方法提高了光谱仪的测量精度，光谱仪是测量不同波长的光辐射的设备。光谱分析仪广泛应用于工业环境和学术研究，用于分析灯具或其他光源的发射，以及分析材料的光学特性。欧洲杯足球竞彩NIST方法纠正了由于杂散光和仪器内不必要的散射辐射而产生的误差。
杂散光通常是常用光谱仪测量不确定度的主要来源。当仪器试图在某个波长测量极低水平的辐射，而在其他波长区域有相对较高水平的辐射时，它可能会导致出乎意料的大系统误差，根据应用程序的不同，甚至可能高达100%。NIST的新方法几乎消除了杂散光误差，将杂散光误差降至总信号的0.001%以下，这是大多数工业和科学应用所希望达到的水平。这允许非常精确的测量低功率的辐射成分和在大的动态强度范围内的精确测量。
NIST的研究人员使用商用的ccd阵列摄谱仪实现并验证了这种方法，它可以立即测量可见光区域的光线。他们描述了覆盖仪器全部光谱范围的可调谐激光器对单色发射的响应。利用测量数据进行计算，生成一个矩阵，量化探测器阵列中每个元素(或像素)对每种光波长的杂散光信号的大小。然后用矩阵对仪器的输出信号进行杂散光校正。该方法简单、快速，可以整合到仪器的软件中，在不大幅降低仪器速度的情况下进行实时杂光校正。
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