CRAIC技术微量分析解决方案的世界领先的创新者,自豪地宣布光谱表面映射(S2M)功能的完美视觉显微分光光度计。
S2M给CRAIC显微分光计用户映射和样品的光谱变化的表面微观空间分辨率。表面概要文件可以创建使用UV-visible-NIR传播,吸光度,发射荧光和偏光显微光谱数据。S2M甚至可以从拉曼显微光谱数据创建地图CRAIC阿波罗拉曼显微分光计。CRAIC显微分光计现在可以创建高度详细的光谱地图微米尺度分辨率快速和自动。
“CRAIC科技一直致力于开发光谱表面映射打包,因为客户请求。我们的客户希望能够自动测量和描述整个表面样品的光谱特征。他们也想要一个高空间分辨率”保罗•马丁博士,总裁CRAIC技术。“S2M包。它允许您收集从成千上万的光谱数据点与一个用户定义的映射模式。因为我们的客户处理许多不同类型的显微镜,我们给S2M地图UV-visible-NIR传播的能力,吸收、反射、排放甚至拉曼microspectra都使用相同的工具。”
光谱表面映射与CRAIC技术包括软件模块使用密涅瓦显微分光计控制软件。当使用CRAIC技术与可编程阶段显微分光计,S2M允许用户自动光谱测量与用户定义的映射模式,达到阶段本身的局限性。有能力达到一百万分,高清晰度的地图样本表面的光谱响应可能会生成。因为软件的灵活性和强大功能,地图可能从传播,吸光度,反射率、荧光、排放甚至极化数据。
拉曼光谱反应甚至可能与CRAIC技术收集和使用时映射阿波罗拉曼显微分光计。S2M让更多的科学家和工程师研究整个表面的样品通过几种不同的方法和细节的最高水平。