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光谱分析引入了高精度的光学发射光谱(OES)技术

Spectro分析仪器引入了光学发射光谱(OES)技术,可在铸铁生产应用中提供更大的碳测量精度和速度。该技术首次亮相,在2013年4月6日至9日,在圣路易斯,2013年4月6日至9日的博览会和金属铸造大会。

“我们的新分析解决方案结合了传统的燃烧分析仪的性能,随着OES方法的速度和易用性,”凯特·托德特,Spectro产品经理SMA,“现在在我们的Spectrolab和SpectroMaxx系统中注册成立,这一新方法是精确的确定铸铁中的碳,即使在次优样品上,也与随着时间和耗时的燃烧分析技术实现的结果相当。“

“一种新的分析碳系和相关参考线,与改进的读出序列组合,使得在预燃烧相期间能够检测自由石墨。这反过来又确保了比以前更多的样品的准确碳成果。具有不可接受的大量自由石墨的样品被识别为“糟糕的”样本“,”注意凯特特。

更好的卓越性能技术

Spectro的先进OES分析技术擅长碳测量性能优越的关键要求。

  • 数字控制等离子体发生器:在OES历史中第一次,Spectromaxx和Spectrolab等离子体发生器被全数字控制以获得更准确和可重复的火花定义。这使仪器能够提供更高的精度,更好的重复性,更快地测量,从外部干扰的影响较小。
  • 更大的紫外线表现:Spectrolab的独特UV-Plus系统包含一个密封的光学室,其用氩气仅填充一次。杂质通过内置滤芯除去,降低运营成本并延长维护间隔。
  • 更高的光学分辨率:SpectroMaxx专门配备CCD技术,用于不需要更高灵敏度和光电倍增管检测的更短的反应时间(PMT)的用户。对于需要超轨迹分析和时间依赖的火花检查的人,Spectrolab在一个强大的仪器中结合了CCD和PMT技术。
  • 复杂的数据处理:Spectrolab和SpectroMaxx系统可以完全覆盖对铸铁分析的整个频谱。除了输出单个元素的结果外,还可以根据测量或配置对数据进行排序,或者读出作为完整的波长扫描。Spectrolab的PMT信号可以以微秒分辨率输出,允许各个火花被分成一百或更多步。

铸铁碳分析的Spectrolab和Spectromaxx系统应用立即可用。有关更多信息,请访问Spectrowww.spectro.com.

引用

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    Spectro Analytical Instruments GmbH。(2021年3月10日)。光谱分析引入了高精度的光学发射光谱(OES)技术。Azom。从6月19日,2021年6月19日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid = 36318检索。

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    Spectro Analytical Instruments GmbH。“光谱分析引入了高精度的光学发射光谱(OES)技术”。氮杂。2021年6月19日。

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    Spectro Analytical Instruments GmbH。“光谱分析引入了高精度的光学发射光谱(OES)技术”。Azom。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=36318。(访问2021年6月19日)。

  • 哈佛

    Spectro Analytical Instruments GmbH。2021。光谱分析引入了高精度的光学发射光谱(OES)技术。Azom,浏览2021年6月19日,//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid = 36318。

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