在显微镜和微量2013次会议，布吕克介绍了两种新仪器，它们进一步扩展了电子显微镜材料表征的高性能工具组合：欧洲杯足球竞彩
- 克森斯™是一种用于扫描电子显微镜（SEM）元素分析的新型平行束波长色散X射线光谱仪（WDS）。XSense光谱仪专为100至3600 eV的较低能量范围而设计，可提供低至4 eV的能量分辨率，可实现紧密间隔X射线线的出色分离和高灵敏度微量元素检测。
- XTrace™是使得在SEM系统光子诱导的微X射线荧光（微XRF）光谱法，结合Bruker的能量色散型X射线光谱仪（EDS）的检测器一个新的微点X射线源。与通常用于在SEM中，微XRF光谱元素分析电子激发X射线光谱比较提供20至50倍，在中到高的能量范围中的频谱的较低的检测的限制，特别是，增加的能力的检测和分析痕量样品中更高-Z元件。
- 新的XSense WDS分析仪使用特殊的X射线镜光学元件，实现高效的大角度X射线采集和并行化。全电动三轴自动对准系统确保焦点的快速、可重复和稳定定位。平行光束光学系统完全可伸缩，由非磁性材料制成，以避免光束偏移和图像失真。通过选择六种衍射晶体，XSense可以进行调谐，为几乎任何应用提供最佳条件。其先进的运动学在整个扫描范围内保持活性晶体相对于X射线束的最佳位置，以获得最大的衍射效率。另外，晶体和探测器之间的二次X射线光学系统进一步提高了XSense WDS的峰背景比和灵敏度。Bruker独特的探测器管理系统主动控制比例计数器的内部气体压力，并自动执行所有高压和鉴别器设置。欧洲杯足球竞彩
When attached to an appropriate port of the SEM’s sample chamber, the new XTrace is using a low-power micro-focus X-ray tube and focusing polycapillary X-ray optics to produce a highly intense X-ray beam for sample irradiation with spot sizes smaller than 40 microns. Due to the alignment of the focal spot to hit the sample surface at the same position as the SEM’s electron beam, the analyst can alternatively acquire both electron-induced and photon-induced X-ray fluorescence spectra from the same sample area.
虽然电子诱导的X射线光谱仪提供高空间分辨率和优良的光元件检测，光子激发与X跟踪是在灵敏度优异，并且允许微量元素检测向下至10ppm水平。结合了这两种技术所获得的信息，可以大大提高分析结果的精度。
两者XSense WDS分析器和X跟踪微X-AY源经由ESPRIT 2.0操作，Bruker的新的和独特的4合1的分析软件套件，无缝集成EDS，WDS，EBSD和Micro-XRF下单的用户界面。ESPRIT 2.0不仅能够直观的导航内并且所有四个互补的方法之间，而且还提供了一种用于将数据组合以获得更高的精度定量结果的各种可能性。
Bruker Nano Analytics部门总裁Thomas Schülein表示：“随着这些激动人心的新产品的推出，我们现在为客户提供了前所未有的选择，以显著增强其电子显微镜的分析能力。作为我们用于微观和纳米分析的QUANTAX系统的组成部分，这两种新工具的设计都是为了在整个能谱范围内提高分析SEM的特异性和灵敏度。XSense WDS专用于低能、轻元素区域，XTrace特别适合揭示中高能范围内的额外分析信息。我们感到自豪的是，Bruker现在是唯一一家提供所有五种技术（EDS、WDS、EBSD、Micro XRF和Micro CT）作为电子显微镜高性能附加分析仪的供应商。由于在我们新的ESPRIT 2.0软件套件下进行了全面集成，研究人员现在可以组合和集成通过这些补充方法获得的数据。因此，我们的QUANTAX系统现已发展成为一个真正的多模态分析工具集，用于在电子显微镜上对材料进行全面表征。”欧洲杯足球竞彩