CRAIC技术,UV-visible-NIR显微镜解决方案的世界领先的创新者,是自豪地介绍20/30 XL™UV-visible-NIR显微分光光度计。20/30 XL™显微分光光度计设计无损分析时非常大的样本的微观特性集成到大型样品处理机械。
与深紫外到近红外的光谱范围,可以通过吸光度分析样本,反射率、拉曼、荧光和荧光以无与伦比的速度和准确性。系统还可以被配置为显微图像样本地区紫外和近红外光谱区域除了高分辨率彩色成像。
由于其灵活的设计使它能够分析最大的样本,应用程序有很多,包括映射平板显示器的颜色和强度的变化,膜厚度测量在整个300 mm晶圆表面,扫描硬盘的表面缺陷的分析整个绘画与高空间分辨率。
与光谱分析和显微图像样本的能力,非常大的设备和介于两者之间的,20/30 XL™显微分光光度计是实验室和生产设施先进的微观分析工具。
“CRAIC技术一直是一个领域的创新者UV-visible-NIR微量分析成立以来。我们帮助推进领域的微尺度分析与创新仪器、软件、研究和教学。20/30 XL™显微分光光度计出生的工业客户的需求能够分析微观特性非常大的样本”保罗•马丁博士,总裁CRAIC技术。
”因此,我们已经听了我们的客户和20/30 XL™创建,系统支持的多年的经验在设计、建设和使用这种类型的仪器光谱和图像分析。它是一个工具,可以用于研究实验室或生产地板上。”
20/30 XL™显微分光光度计集成先进与成熟UV-visible-NIR范围显微镜和分光光度计强大,易于使用的软件。这个灵活的仪器的目的是连接到大框架能满足大规模样本。然后能够获得非常大的数据从微观特征样本通过吸光度,反射率、拉曼、荧光和其他类型的发射光谱。
包括高分辨率数字成像技术,用户也可以使用仪器紫外或红外显微镜。触摸屏控制,复杂的软件,校准可变光阑和其他创新都指向一个新的水平微量分析的复杂性。
具有灵敏度高、耐用设计,易用性,多个成像和光谱技术,自动化和CRAIC技术的支持,20/30 XL™不仅仅是一个质量控制测量工具…这是你的分析挑战的解决方案。
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关于CRAIC技术
CRAIC技术公司。是一个全球技术领导者关注创新显微镜和显微镜的紫外线,可见光和近红外区域。CRAIC技术创造尖端的解决方案,最好的客户支持,通过倾听客户和实施解决方案,整合卓越运营和技术专长。CRAIC技术为客户提供答案在法医科学、生物技术、半导体、地质学、纳米技术和材料科学的市场需求质量、精度、精度、速度和最好的欧洲杯线上买球客户支持。欧洲杯足球竞彩