AXT企业有限公司AXAA(澳大利亚x射线分析协会)会议将于2014年2月9日至13日举行。
被接受的摘要标题为“半导体探测器使x射线衍射快速测量”和“扫描电镜矿物分析在不同类型矿石样品中的应用”。它们将分别由内部产品专家Dr. Nav Dhaliwal和Dr. Kamran Khajehpour提供。
前一篇摘要将涵盖各种类型的XRD探测器的研究工作及其各自的优缺点。特别地，这次演讲将集中讨论两种类型的半导体探测器，D/tex Ultra 250 1维探测器和Pilatus 2维探测器，它们分别是硅条探测器和硅像素探测器。最重要的是，这次演讲将讨论这些类型的探测器的速度和准确性，并将它们与0维探测器进行对比，后者传统上是最快的探测器家族，但实现这一点是以牺牲准确性为代价的。本次演讲的结果由Rigaku生成，论文由日本久保富胜合著。
Khajehpour博士将发表的第二篇论文是使用扫描电子显微镜(SEM)，特别是Tescan综合矿物分析仪(TIMA)对矿石进行自动化分析。该仪器提供了3种自动数据采集技术，模态分析，解放分析和明亮相位搜索，所有这些都将使用真实的样品作为演示进行描述和讨论。本文由来自捷克Tescan的Veronika Kralova共同撰写。
AXT也将在AXAA会议上参展。他们将展示Rigaku和Tescan TIMA的XRD和XRF系统，以及Katanax的电熔珠机，SpeX的样品压机和俄勒冈实验室的自动助焊剂称重机。
欲了解更多AXT产品信息，请访问www.axt.com.au或在AXAA贸易展12至14号展位停留。