希登分析宣布了一系列新的表面和表面接口诊断工具。基于特高压二次离子质谱(SIMS)技术的新工具提供了高性能的表面元素和污染分析，以及具有纳米级深度分辨率的深度剖面。
隐藏表面诊断系统被设计用于许多类型的样品，包括冶金薄膜、涂层、太阳能电池和半导体。至关重要的是，新系统包括卓越的深度和空间分辨率，提供纳米/微米级表面最上层和薄膜的3D图像。特高压样品负载锁可以容纳各种尺寸和形状的样品，使隐藏表面诊断工具非常通用。
历史上高性能的SIMS工具只能以非常高的资本成本和持续的高拥有成本提供。HIDEN SIMS分析工具是从基础级开始的模块化系统，并以极低的所有权成本和可承受的价格水平提供世界级性能。该系统包括一个专用的模拟人生用户界面，使操作简单明了，新的初学者的用户培训通常在2-3天内完成。
有关此或任何其他隐藏分析产品的进一步信息，请联系隐藏[受电子邮件保护]或访问主要网站www.HidenAnalytical.com．
关于希登分析
希登分析公司成立于1981年，目前位于2130米2位于英国沃灵顿的制造厂，员工超过50人。作为一家私营公司，我们的声誉建立在与客户建立密切和积极的关系上。这些客户中的许多人都在新技术的前沿工作——在等离子体研究、表面科学、真空处理和气体分析领域。为了保持这一声誉，多年来，我们在公司的这些领域建立了卓越的技术专业水平。欧洲杯线上买球