CRAIC Technologies是世界领先的微创分析解决方案创新者，很自豪地宣布其UV可见Nir微型分光光度计的光谱表面Mapping™（S2M™）能力。
S2M™为CRAIC MicroTectrometer用户提供了映射其样本逐个曲面的光谱响应的能力。具有微观空间分辨率，可以使用UV可见光释放透射，吸光度，发射，荧光和偏振微波数据来创建表面轮廓。S2M™甚至可以从CrAic Apollo™拉曼微旋光器中创建从Raman MicroStral数据的地图。现在可以快速和自动地创建具有微米刻度分辨率的高度详细的光谱图。
“由于客户请求，CrAic Technologies已致力于开发光谱表面Mapping™包。我们的客户希望通过它们的光谱特性自动调查和表征样本的整个表面。他们还想要一个高空分辨率“陈旧技术总裁Paul Martin博士。“S2M™包只是这样做。它允许您利用用户定义的映射模式收集来自数千点的频谱数据。由于我们的客户处理如此多种不同类型的微谍谱检查，我们给了S2M™的能力使用同一工具映射UV-Visible-Nir传输，吸光度，反射率，甚至发射Micropectra™。“
光谱表面Mapping™是一种与CrAic Technologies LambdaFire™Micropectrometer软件一起使用的插件软件模块。当使用可编程阶段的CRAIC技术微络计数器时，S2M™允许用户自动使用达到阶段本身的移动限制的用户定义的映射模式来采用光谱测量。通过测量高达百万点的能力，可以产生样本表面的光谱响应的高清晰度图。并且由于软件的灵活性和功率，地图可以来自透射，吸光度，反射，荧光，发射甚至偏振数据。当与CRAIC Technologies Apollo™拉曼微谍谱器一起使用时，甚至可以收集和映射拉曼光谱响应。S2M™为科学家和工程师提供了更多的权力，以便在几种不同的方法和最高细节水平上研究其样本的整个表面。
有关CRAIC Technologies Microspecturers的频谱表面Mapping™功能的更多信息，请访问www.micrompectra.com。