校准标准专家怀特豪斯科学公司是RSC颗粒特性兴趣小组组织的2014年“颗粒系统分析会议（PSA）”的赞助商。
第12届PSA会议和展览于2014年9月15日至17日在英国曼彻斯特举行。Whitehouse Scientific的专家将发表两篇论文，探讨如何将图像分析作为一种有效的解决方案，用于校准和验证粒度和形状是关键参数的工业过程。
Whitehouse Scientific首席执行官Graham Rideal博士说，“Whitehouse Scientific很高兴赞助今年的微粒系统分析会议。每年，PSA都会为整个科学行业的工作人员提供一个极好的平台，让他们自由分享微粒分析方面的知识和经验。我们期待着在今年的会议上发挥更大的作用，并我们最近的一些工作是开发更有效的图像分析解决方案，用于方法校准和验证。”
“静态图像分析——校准和验证中的关键要素”将由Whitehouse Scientific高级科学家、皇家化学学会院士基思·布罗克赫斯特（Keith Brocklehurst）主持。本文研究了影响和扭曲粒子图像分析的因素，以及可用于解决这些问题的校准和验证技术。
Graham Rideal随后将介绍“通过挑战性测试分析3D编织不锈钢网格孔径尺寸时，颗粒形状的重要性”。本演示文稿探讨了图像分析是如何成为唯一可用的校准技术，为低至5微米的复杂斜纹网格提供NIST可追踪结果。
Whitehouse科学团队将在整个活动期间在场，讨论粒度和形状表征的任何方面，并就校准标准的应用提供专家指导。
今年的PSA2014会议和展览将与一系列科学、技术和工程部门相关，并有一个重点章节介绍工业上重要的超细气泡的特征。
有关Whitehouse Scientific提供的产品和服务的更多详细信息，请访问www.whitehouse scientific.com