Keithley Instruments，Inc。是高级电气测试工具和系统的全球领导者，今天宣布已收到X-FAB Silicon铸造厂的S530参数测试系统的订单。X-fab是一种基于德国的铸造厂，用于模拟/混合信号设备和微力机械系统（MEMS），订购了S530测试仪的低功率版本，用于在马来西亚古晋设施的主生产线上安装，在马来西亚，那里的主要生产线上高压S530系统已经到位。
X-FAB首席运营官Manfred Riemer博士说，“我们的管理团队通过与基思利（Keithley）的人员合作而享受的战略合作和出色的支持使这一决定变得很容易。S530系统与X-FAB的制造自动化系统以及与我们现有的测试设备的高相关性的兼容性非常好。”2020欧洲杯下注官网
Steffen Richter, X-FAB’s group manager for process control monitoring, will present a paper on the joint X-FAB/Keithley effort involving the initial S530 correlation and speed optimization project at the 16th European Manufacturing Test Conference (EMTC), to be held during SEMICON® Europa 2014 in Grenoble, France, October 7–9, 2014. The paper, “Optimizing Automatic Parametric Test (APT) in Mixed Signal/MEMS Foundry,” is co-authored with Alex Pronin, Ph.D., a lead applications engineer at Keithley.
X-FAB多年来一直依赖Keithley参数测试系统。根据他们在我们的S530高压系统方面的经验，X-FAB决定将Keithley Low Power Systems添加到其主生产线上。
Keithley总经理Mike Flaherty
弗莱厄蒂继续说：“基思利的人员与工程团队紧密合作，以确保结果与现有测试人员的人息息相关。我们的应用团队将数千行的原始测试系统代码转换了，然后执行了相关测试，将1200多个参数匹配到原始供应商数据的3％以内。”
基思利S530参数测试系统提供了出色的低成本所有权，主要用于半导体晶圆厂，需要在广泛的产品或广泛的应用程序灵活性和快速测试计划开发的地方进行高吞吐量测试至关重要。低功率（200V）系统配置通常用于标准CMO，双极，MEM和其他相对较低的电压半导体过程。高功率（1KV）版本已针对GAN，SIC和SI LDMOS POWER设备需求的困难分解和泄漏测试进行了优化。