用于固体材料质谱分析的新型紧凑SIMS工具

从希登分析2014年10月2

的希登紧凑的西姆斯该工具是专为快速和容易的特征层结构，表面污染和杂质与氧初级离子束辅助的正离子的灵敏检测，并提供整个周期表的同位素敏感性。

离子枪的几何结构被优化为纳米深度分辨率和近表面分析的理想选择。

旋转传送带使10个样品可以同时装入干抽真空室进行测量。该仪器占地面积小，非常容易使用，它拥有与全功能Hiden SIMS工作站家族相同的控制软件和离子枪系统，提供深度剖面、3D和2D图像和质谱数据。

最大- 600p探测器是基于高可靠的隐藏6mm三重四极质量滤波器与脉冲离子检测。电子枪可用于绝缘样品的分析。

除了SIMS, Compact SIMS还有一个SNMS设备，用于定量高浓度元素，如合金。

应用程序:

特点:

有关本产品或任何其他隐藏分析产品的进一步信息，请联系Hiden Analytical:(电子邮件保护)或访问主要网站www.HidenAnalytical.com．

引用

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美国心理学协会
针孔分析。(2019年,08年2月)。用于固体材料质谱分析的新型紧凑SIMS工具。AZoM。于2021年7月27日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=42541检索。
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针孔分析。固体材料质谱分析的新型紧凑SIMS工具。AZoM．2021年7月27日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=42541 >。
芝加哥
针孔分析。固体材料质谱分析的新型紧凑SIMS工具。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=42541。(2021年7月27日生效)。
哈佛大学
希登分析》2019。用于固体材料质谱分析的新型紧凑SIMS工具．viewed september 27, //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=42541。