新的尼康计量BW系列WLI显微系统。
基于尼康的业界领先的双光束干涉目标，尼康计量推出了一系列白光干涉（WLI）系统，指定的BW系列，将设置在2D和3D表面轮廓化的新标准。
使用BW系列显微镜石墨烯层高度测量值。（彼得·布莱克博士的形象礼貌，石墨烯实业有限公司）。
与WLI焦点变化移动技术向前，以15点（皮米）的有效高度的分辨率和更精确和准确的3D表面高度测定。
通过新技术集成到其现有的工业研究级显微镜，该公司已经能够WLI与标准的光学技术，如明场，暗场，偏光，DIC（微分干涉对比）和表面荧光相结合，使得BW系列真正的多功能成像系统。
它们提供各种选项，包括：选择高速和高分辨率相机;一系列尼康派目标;压电目标和骗局;和手动或机动扫描阶段，所有这些都允许系统根据客户的需求和预算量身定制。
对于BW系列焦点变化WLI显微镜的应用包括表面和玻璃，陶瓷，硅晶片，球轴承，图像传感器，薄膜，石墨烯，模具，橡胶，金属和塑料的粗糙度分析。
尼康METROLOGY
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