希登10月15日和16日,在英国考文垂Ricoh Arena举行的2014真空博览会上,我们很高兴地宣布推出了Compact SIMS,这是一个表面分析的设计突破。访问展位V10。
Compact SIMS工具设计用于快速和简单的层结构、表面污染和杂质的特征,并通过氧初级离子束辅助的正离子的灵敏检测,并提供整个元素周期表的同位素敏感性。离子枪的几何结构被优化为纳米深度分辨率和近表面分析的理想选择。
旋转旋转梭形使10个样品能够同时装载到干式泵浦真空室中。该仪器具有小的占地面积,并且非常易于使用,它拥有相同的控制软件和离子枪系统,作为全特色的Hiden SIMS工作站系列,提供深度配置文件,3D和2D图像和质谱数据。MAXIM-600P检测器基于具有脉冲离子检测的高度可靠的Hiden 6mm三重四极杆质量滤波器。电子枪选项可用于分析绝缘样品。
除了SIMS, Compact SIMS还有一个SNMS设备,用于定量高浓度元素,如合金。
应用程序:
特点:
- 小足迹
- 简单易用的布局
- 阳性SIMS和SNMS
- 深度分析
- 三维特征和成像
- 质谱
- 同位素分析
- 纳米尺度的分析
有关本产品或任何其他隐藏分析产品的进一步信息,请访问2014真空博览会的隐藏分析展台V10或联系隐藏分析:[电子邮件受保护]或访问主要网站www.hidenanalytical.com..