Rigaku发布WDXRF应用于地质样品的半定量分析

rigaku公司已发表新的应用报告,使用半定量方法和采用波长分散X射线荧光(WDXRF)光谱法分析地质样品的分析。

Rigaku应用笔记#XRF 1020显示了地质样品的分析(包括样品制备方法,校准和重复性的细节),由此用于快速确定未知样品的化学成分。

快速测定地质样品中的元素的要求,这些元素通常由广泛的元素组成,在众多工业和研究领域都在增加,包括能源勘探,采矿业,环境研究和人类健康研究。

对于这种未知样本的适当分析方法需要灵活性,除了QUACKENTY之外。现代XRF仪器中的半定量分析是一种独特的方法,而不使用任何参考材料进行未知样本分析。欧洲杯足球竞彩

压制的粉末方法是XRF光谱法中粉末样品中最常见的技术。对于所述分析,将花岗岩岩石用作演示样品。使用由铝制成的样品支撑环在100kn的压力下压制干燥的样品。

Rigaku ZSX Primus III + WDXRF光谱仪用于测量。ZSX Primus III +是一种落地光谱仪,设计用于高光谱分辨率和从光到重点的高灵敏度提供优点。氟对铀的顺序扫描分析进行,然后进行半定量分析。

对于该分析,对每个跟踪元素施加固定角度测量。固定角度测量是Rigaku SQX程序的独特功能之一,一个半定量分析程序,用于通过使用基本参数(FP)方法和内部灵敏度库来获得浓度的半定量分析程序。使用此功能执行测量可以显着降低统计计数误差并提高跟踪元素分析的精度。

在已发布的报告中,使用匹配库的SQX计算应用于来自钠到钙的轻质元素。由于晶粒尺寸和矿物学效应,通常在粉末样品中的轻质元素结果中产生显着的误差。SQX分析的结果与参考值一致,并显示光元件的改进。通常,由于硅酸盐矿物质,地质样品由光元素构成,因此“匹配文库”功能在校正这些条件并获得准确的结果。

报告中显示的结果在ZSX Primus III +光谱仪上获得,具有3 kW X射线管。使用4 k射线管,ZSX Primus III +可以产生卓越的结果,以确定微量元素。

报告证实,通过WDXRF通过压制粉末方法进行半定量分析是快速获得未知样品的化学成分的强大技术。标准分析程序“SQX”被显示为快速识别和量化元素的有效工具,为具有易于使用操作提供的缺乏经验的用户。

可以请申请本报告副本:

http://www.rigaku.com/products/xrf/appnotes?id=xrf_1020

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    rigaku公司。(2019年3月18日)。Rigaku发布WDXRF应用于地质样品的半定量分析。Azom。从6月22日,2021年6月22日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid = 42870检索。

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    rigaku公司。“Rigaku发布了WDXRF应用,以了解地质样品的半定量分析”。氮杂。2021年6月22日。

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    rigaku公司。“Rigaku发布了WDXRF应用,以了解地质样品的半定量分析”。Azom。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=42870。(访问2021年6月22日)。

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    rigaku公司。2019年。Rigaku发布WDXRF应用于地质样品的半定量分析。Azom,浏览2021年6月22日,//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=42870。

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