NETZSCH DIL402 Expedis Supreme
在新的DIL Expedis系列中，NETZSCH分析与测试介绍了一种全新的膨胀测量位移传感器原理的概念设计。
新的测量系统，“纳米眼”-基于光电测量传感器和力水平的相互作用，可以通过执行器精确应用-是这一新仪器系列的核心。这允许在10 mN和3 N之间施加恒定的力，而不依赖于样品的膨胀或收缩。
但是NanoEye提供的还不止这些。到目前为止，任何测量范围的扩大都排除了高分辨率的可能。相比之下，NanoEye在整个50毫米的测量范围内提供了高达0.1 nm的前所未有的分辨率，而且所有这些都具有完美的线性度。
NETZSCH不仅使膨胀计测量更精确，而且简化了它的过程-从正确的样品插入到开始测量。新的多点触控功能帮助用户在插入后正确定位样品。此外，样品长度不再需要手工确定。
DIL 402 Expedis自动承担所有这些任务。对样品施加10mn的最小接触压力的能力使即使是柔软和脆弱的样品现在也可以毫不费力地测量。在过去，这只有通过光学膨胀法才能实现。
Expedis系列仪器代表着终极的灵活性。真空密封的选择和最高型号可以选择配备第二个炉，温度范围在-180°C和高达2000°C。这为更广泛的应用打开了大门。
由于其紧凑的设计，Expedis将自己定位为新一代的仪器。通过集成外围设备，如供气、动力装置和恒温器，从一开始就确保了一个整洁的工作站。
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