SEMICON West 2015: Advantest展示半导体测试解决方案,实现物联网

领先的半导体测试设备供应商2020欧洲杯下注官网效果显著的公司将展示其全系列的测试解决方案,旨在使包括自动测试设备(ATE),太赫兹测量系统,多视觉扫描 - 电子显微镜(SEM)和E-SEMIC扫描 - 电子显微镜(SEM)和电子束光刻系统提供了全系列的测试解决方案2020欧洲杯下注官网西2015年贸易展,将于7月14日至16日到旧金山的莫斯恰中心。

产品和展示在Advantest北厅6143号展位
显著将有两个新产品的上市:T5833系统,能够晶圆测试和最终测试的任何NAND闪存或DRAM设备,和T2000 28 g OPM,公司的第一个模块设计测试高速光收发器通过光纤用于发送和接收数据。其他展位展示将突出多功能V93000平台在多站点射频(RF)应用和测试物联网设备方面提高时间到质量(TTQ)的能力;用于系统片上芯片(SoC)和存储芯片的M4871和M6245测试处理器;T2000 ISS用于快速CMOS图像传感器的高速测试;T2000 IPS集成功率器件测试解决方案;以及用于测试高速、高引脚计数显示驱动芯片(DDI)的T6391一体化系统。对于先进的计量和纳米制图应用,展位将包括Advantest的TS9000太赫兹测量系统,用于IC模具厚度的无损检测和电气故障分析TDR;该公司的生产线E3310, E3640和E5610 sem用于检测下一代晶圆,掩模和毛坯;F7000电子束光刻工具在10纳米及以下技术节点面临挑战。

展览还将展示EVA100测试仪,用于小针数半导体的数字和模拟测试;效果显著的CloudTesting™服务;和SmartBox™-一个创新的,生产和销售点诊断测试解决方案的智能手机,平板电脑和物联网设备。SmartBox是由Advantest集团旗下的W2BI公司开发的。

今年提名的最佳论文
此外,来自Advantest及其合作公司的技术作者被提名为2014年最佳ATE论文,这是在SEMICON West 2015年Test Vision 2020研讨会上颁发的行业荣誉。这篇题为“基于ate的32 gbaud PAM-4高速表征和测试解决方案”的论文最初是在去年11月于中国杭州举行的IEEE亚洲测试研讨会上发表的。

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