布鲁克在扫描电子显微镜(SEM)中引入了新的OPTIMUS™TKD探测器头，用于透射菊池衍射(TKD)。这种创新的新产品具有水平荧光屏的特点，可以直接放置在电子透明样品的下面。OPTIMUS™可与所有Bruker e-Flash EBSD检测器的标准检测器头互换使用，使用同一检测器可以方便地访问EBSD和TKD。
Optimus™TKD探测器头
OptimUS™TKD检测器头提供了最佳的几何条件，导致与TKD使用仅使用垂直屏幕的标准EBSD检测器相比，导致两个主要优点。首先，获取信号最强的信号，其次是产生的图案显示最低可能的失真。
由于OptimUS™提供的信号的增益，用户可以使用与之前的相同的SEM探头电流更快地获取数据或通过使用较低的探头电流来获得改进的横向空间分辨率。
或者，可以减少SEM加速电压，这改善了非常薄的样品的分析，因为低能量电子更可能在晶格上衍射。第二个优点，最小的图案失真导致频带检测和索引精度的进一步提高。
OptimUS™也可用于获取与传统传输电子显微镜中看到的所选择的区域电子衍射（SAED）图案非常相似，但在成本和努力的一小部分中。
Argus™直接电子检测系统与相同的理想几何条件集成到Optimus™好处。在传输模式下使用Argus™获取的暗场和明亮的场图像，显示纳米级微结构特征，以及单一位错或变形材料中的位错壁等细节。欧洲杯足球竞彩
OTPIMUS™TKD探测器头部旨在与所有Bruker E-Flash EBSD探测器兼容。现有的探测器可以在不到20分钟内通过培训的用户轻松升级。根据手头的测量任务，用户可以在TKD和EBSD分析之间切换。新的Optimus™TKD探测器头与Bruker TKD样品架以及Bruker的XFlash®EDS探测器完美地配合使用。