SENTECH提供了10倍更快的测量速度

SENTECH提供用于薄膜计量的前缘椭偏仪和用于蚀刻和沉积的等离子体设备。2020欧洲杯下注官网

SENresearch系列代表了SENTECH光谱椭偏仪的高端产品,包括FTIR(傅里叶变换红外)光谱和多二极管阵列光谱椭偏仪的独特组合。

SENresearch椭偏仪系列利用了光谱技术和阶跃扫描分析原理进行检测,提供了最宽的光谱范围,最高的分辨率和最佳的信噪比。

多路检测的最大优势是速度,这使得SENresearch椭偏仪成为最快和最灵活的椭偏仪。

为了满足客户的高要求,SENTECH改进了SENresearch FTIR椭偏仪,以更快的速度测量近红外,提供最高的光谱分辨率和最宽的光谱范围,在更短的测量时间内具有优良的信噪比。

SENresearch光谱椭偏仪应用超快FTIR光谱椭偏仪,在不到10秒的时间内测量了超过1000对(Ψ, Δ)介于240-2500 nm之间的(Ψ, Δ)。这意味着与最先进的解决方案相比,测量速度快10倍。

除了提高测量速度外,我们还将光谱范围扩展到2500 nm。氘-卤素光源和MgF2光学系统的下限为190 nm,氘-卤素光源和石英光学系统的下限为240 nm,卤素光源的下限为380 nm。

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  • 美国心理学协会

    Sentech仪器。(2019年,08年2月)。SENTECH提供了10倍更快的测量速度。AZoM。于2021年10月03日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=44257检索。

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    Sentech仪器。“SENTECH提供了10倍更快的测量速度”。AZoM.2021年10月3日。< //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=44257 >。

  • 芝加哥

    Sentech仪器。“SENTECH提供了10倍更快的测量速度”。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=44257。(2021年10月3日生效)。

  • 哈佛大学

    Sentech工具。2019。SENTECH提供了10倍更快的测量速度.viewed september 21, //www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=44257。

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