一份新的白皮书解释了为什么克服矩阵效应与x射线荧光(XRF)分析是获得一致的高精度结果的关键。
这篇论文的标题是“在使用XRF进行高精度元素分析时，通过先进的光谱处理功能缓解矩阵效应，可从以下网址下载http://goo.gl/5tIKb9来自光谱分析仪器，先进仪器的领先制造商。
很大的优势能量色散x射线荧光(ED-XRF)分析用于快速筛选分析的能力是其直接测量样品的能力，只需最少的准备。然而，要实现这一好处，需要消除样品基质中的原子影响其他原子的荧光从而影响光谱仪测量的强度时可能产生的潜在误差。
这些效应，包括吸收和增强效应，当综合起来时，一般称为基质效应。对于质量控制应用，当样品基质已知或可以匹配时，各种基于标准的XRF计算程序可用来补偿不期望的基质效应。
然而，为持续的高精度结果创建正确的基础需要额外的光谱处理功能，以确定测量光谱的正确净强度。新的白皮书，”在使用XRF进行高精度元素分析时，通过先进的光谱处理功能缓解矩阵效应解释了为什么这种附加功能是克服矩阵效应并确保始终保持高精度结果的关键方面。下载新的白皮书http://goo.gl/5tIKb9．
斯派克:
SPECTRO是AMETEK公司材料分析部门的欧洲杯足球竞彩一个部门，生产先进的仪器，为广泛的应用开发元素分析的最佳解决方案，并提供典型的客户服务。
SPECTRO的产品以其卓越的技术能力而闻名，为客户提供可衡量的利益。从1979年成立至今，公司已为全球客户提供了4万多台分析仪器。
AMETEK, Inc.是全球领先的电子仪器和机电产品制造商，在美国和世界其他30个国家的近150个运营地点和销售和服务业务拥有15,000多名员工。