EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析,并具有更好的检测极限

新的SDD旨在显着提高广泛应用的元素分析功能1000Thermo Scientific ARL Quant’x EDXRF光谱仪的检测器利用1,000微米的硅晶体,是市场上硅漂移探测器的厚度的两倍以上。

配备了SDD1000检测器提供的计数速率比该仪器的先前检测器高四倍,并具有更好的分辨率,从而提高了检测的限制和三倍的测量。最先进的硅晶体的厚度为检测重元素提供了增强的灵敏度。其较大的活跃区域为更轻至更重的元素提供了更好的性能。

关键应用程序:环境,电子,汽车/机械,采矿,取证,水泥,矿渣,石油和石化,油漆和聚合物,宝石学。

特点与优势:

  • 改进的检测极限:跨周期表的元素分析范围更大
  • 更快的性能:快速,准确分析大小样品(2 mm至30 cm)
  • 快速启动:带有SDD的光谱仪1000探测器可以在一夜之间停止并在不到三分钟内重新启动
  • 更广泛的活动区域:捕获更多的光子以进行更好的分析

网站:www.thermoscientific.com/quantx

引用

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    Thermo Fisher科学。(2019年2月8日)。EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析检测限制。azom。于2022年6月22日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=44884检索。

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    Thermo Fisher科学。“用于EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析检测限制”。azom。2022年6月22日。

  • 芝加哥

    Thermo Fisher科学。“用于EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析检测限制”。azom。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=44884。(2022年6月22日访问)。

  • 哈佛大学

    Thermo Fisher科学。2019。EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析,并具有更好的检测极限。Azom,2022年6月22日,https://www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=44884。

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