最新的奥林匹斯山应用笔记详细说明如何观察原位使用Olympus LEXT OLS4100共聚焦激光扫描显微镜对柔性电子器件进行力学测试，为优化互连设计提供了有价值的定量信息。
意大利米兰理工大学的Dario Gastaldi博士和他的研究小组开创了柔性电子器件的发展的新领域，他们使用奥林巴斯LEXT OLS4100作为扫描电子显微镜(SEM)的替代品。
作为可靠性测试系统的一部分，共聚焦激光扫描显微镜提供了有价值的定量信息，反馈以优化几何和制造方面的互连设计。这一尖端研究可在奥林巴斯(Olympus)的一份新的在线应用报告中查看。
从柔性手机到可穿戴化学传感器，柔性电子设备有着丰富的潜在应用。一种允许这种设备承受变形的设计方法是将电子元件覆盖在可变形的衬底上。T
这些刚性部件通过一个灵活的互连线连接，Gastaldi博士的研究正在寻求优化互连线设计，利用现场机械可靠性测试来分析应变下设备的行为。这种方法需要高分辨率的观测技术，虽然之前使用了SEM，但无法对面外变形进行精确的定量。
用Olympus LEXT OLS4100共聚焦激光扫描显微镜取代SEM, Gastaldi博士的小组现在受益于许多特征，包括来自高度图的定量信息和高横向分辨率。LEXT OLS4100提供高精度光学计量，研究人员现在有定量证据支持特定几何图形如何更抗分层，通过数值建模系统提高设计过程。
此外，裂纹的形成可以被详细跟踪，并且已经表明，等离子体处理聚合物，而增加附着力可能促进裂纹。
图像质量给我留下了深刻的印象，更不用说定量信息了。LEXT的简单管理使我们能够专注于我们的研究。
达里奥·加斯达尔迪博士-米兰理工大学
结合奥林巴斯的数字光学显微镜技术与机械测试，奥林巴斯LEXT OLS4100提供了在材料科学的所有部门的广泛应用领域的可能性。欧洲杯线上买球
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