在Analytica 2016上，Bruker Today推出了S4 TSTAR，这是一种新的和独特的总反射X射线荧光（TXRF）光谱仪，用于在广泛的应用领域，包括药物，食品和环境监测，用于超轨道元素分析。
S4 TSTAR是专门设计的，以满足日益严格的领域需求，例如根据新的欧盟和美国药房标准，对药品生产中的金属污染或监测催化剂元素的监测，新产品开发和食品中的质量控制行业，包括全球化供应链中原材料的可追溯性和验证，或控制废水，泥浆和废水中的污染物。欧洲杯足球竞彩
S4 TSTAR具有多达三种不同的X射线激发模式和高性能的大面积Xflash®硅漂移检测器（SDD），以确保从钠到铀的所有元素的检测极限。
自动样品更换器提供的总容量最多可达90个样品，最多可以使用十个样品托盘加载。根据应用的不同，专用托盘可用于不同类型的反射样品载体，例如石英盘，显微镜载玻片或硅晶片。这种独特的灵活性结合了样品制备的非常适中的要求，使S4 TSTAR成为分析多种样本类型的最通用的工具，包括溶液，悬架，固体，固体，晶圆，细胞培养物，涂片，涂片和薄层。
S4 TSTAR的独特SampleCaretm概念，具有减少的内部空气流量，特殊的集成样品外壳和可堆叠的储物盒，不断保护样品在准备，运输和测量过程中保留高数据质量的过程中免受污染。
S4 TSTAR专为工业常规分析中的连续24/7多用户操作而设计，并支持自动批处理处理以及无人值守的操作，例如过夜。该软件允许定义关键阈值或置信度限制，并提供警告，如果超出了关键限制。S4 TSTAR也是第一个在背景中自动运行QC例程的TXRF光谱仪，利用内部质量检查样本来监视和稳定关键的系统参数。
随着检测极限的重大改进，结合了自动QC例程，功能强大的软件选项以及在样本类型和载体方面的独特多功能性，S4 TSTARSET的新标准是台式TXRF光谱的性能，自动化和质量的新标准，并且可以被视为一种。有效的补充或对ICP-MS的真正替代方案。
Bruker Nano Analytics产品经理TXRF产品经理Armin Gross博士