EDAX作为x射线显微分析和电子衍射仪器的领导者，公司最近发布的OIM Analysis™v8继续引领行业。OIM analysis™是一种广泛应用于EBSD测绘数据的微结构可视化和分析工具，现在它包含了多种新功能，使分析人员能够对其材料表征有新的见解。欧洲杯足球竞彩
- 多线程操作使用优化的代码利用现代MultiCore CPU，确保更快的地图渲染，突出显示和表征计算，以实现性能改进，以可用的核心数量为规模。
- EBSD模式索引为用户提供重新索引OIM映射数据集中的数据点的能力，以便通过点，按分区或使用完整的数据集重新索引现有数据集。分析师可以使用Edax的三联索引和专利的Chi-Scan和NPAR技术来改善从显微镜的EBSD索引性能。
- 抗谷物分析，这是EDAX独有的特性，使分析人员能够描述非索引数据点，并关联其他微观结构特性，以便理解不同EBSD度量指标之间的关系。抗晶粒也可以与感兴趣的区域内的孔隙或无定形区域相关联。
- 相关情节允许可视化两个EBSD测量值之间的关系，当绘制相对值时。
- HDF5支持确保保存的EBSD模式可以以HDF5格式存储，以获得更好的可移植性，并与HR-EBSD的Cross Court兼容。
EDAX再次重置了EBSD数据分析能力的标准。随着OIM Analysis™v8中集成的新功能和特性，现在可以更快地获得更有意义和丰富多彩的地图、量化图表和纹理计算，并引入新的索引EBSD模式范式，以提高地图质量。
EDAX EBSD产品经理Matt Nowell