2016年9月15日
国家物理实验室的科学家们(不良贷款)已经开发出一种新的无损检测方法在有机半导体分子的取向晶体管使用拉曼光谱。这将创建一个更快和更灵活的方法测量电导率在印刷电路的效率,使科学家们能够了解设备的质量。
当前打印电子主要使用无机非印刷半导体组件,如上所示。不良贷款的新测试为这些组件铺平了道路,也被打印出来。
现代电子设备,如太阳能电池可以更低的成本和重量通过使用有机半导体,在这种情况下,有机导电聚合物分子,因为他们可以打印薄片上大量的塑性材料。然而,印刷这些聚合物分子意味着他们可以在所有的结晶方向会导致降低电导率。因此,能够测量这些分子的取向是一个至关重要的质量控制过程的一部分。
进行非破坏性测量这些分子已经不可能了。利用拉曼光谱,科学家可以观察到的一个分子振动时光照。不同的振动导致分子反射的光线有不同的频率。分子与不同方向振动不同激光经过他们,导致的频率范围。这项技术由不良贷款使用这些反映频率分辨三维取向的分子在印刷电路。
使用新的测试,电子设备的生产过程的效率可以大大提高使它们更便宜、更快和更好的质量。
塞巴斯蒂安·伍德博士更高的不良贷款研究科学家,说:“理解分子取向一直是一个感兴趣的领域的印刷电子社区十多年来,各种一和二维进行测试。不良贷款是第一个组织有效地描述这一重要性质和在三维空间中,在不破坏测试电路。我们兴奋的组织,使可能是一个革命性的突破,可印刷电子产品的性能和商业可行性。”
来源:http://www.npl.co.uk/