发表于|新闻

介绍了AFM-SEM-EDX相关分析的主要解决方案

从Nanosurf AG)2017年3月22日

介绍了AFM-SEM-EDX相关分析的主要解决方案。

互补技术的组合是对微型和纳米世界的新见解的关键成功因素。AFSEM^TM使您可以轻松地结合三种最强大的分析技术- AFM, SEM，和EDX -极大地扩展了相关显微镜和分析的可能性。

这是由Nanosurf和GETec探讨了AFM-SEM-EDX相关分析的最新进展，并展示了如何将这些技术结合在交互式实验中。

主题包括:

	AFSEM简介和概述^TM系统
	兼容现有SEM和其他附加组件 (例如拉伸阶段或纳米压头)
	最近的应用进展 (例如原位粗糙度及电导率分析，相关SEM/EDX/AFM, 3D层析成像)

在视频的最后，专家们回答了观众提出的应用和仪器方面的问题。

想了解更多的纳米冲浪视频，请查看我们的其他视频视频或访问我们的YouTube频道．

Afsem网络研讨会（2017年3月15日）

引用

请在你的文章、论文或报告中使用下列格式之一来引用这篇文章:

APA
Nanosurf AG)。(2017年8月01)。介绍了AFM-SEM-EDX相关分析的主要解决方案。AZoM。于2021年8月25日从//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=47461检索。
MLA
Nanosurf AG)。“介绍相关AFM-SEM-EDX分析的领先解决方案”。AZoM．2021年8月25日。。
芝加哥
Nanosurf AG)。“介绍相关AFM-SEM-EDX分析的领先解决方案”。AZoM。//www.wireless-io.com/news.aspx?newsID=47461。(2021年8月25日生效)。
哈佛大学
Nanosurf AG)。2017.介绍了AFM-SEM-EDX相关分析的主要解决方案．Azom，查看了2021年8月25日，//www.wireless-io.com/news.aspx?newsid=47461。