图片来源:Horiba Scientific
HORIBA Scientific，全球光谱椭偏光仪的领导者超过25年，自豪地宣布推出他们的新UVISEL Plus，一个模块化的椭偏光仪，包括最新的采集技术，旨在更快，更准确地测量薄膜样品。
FastAcq是最新的采集技术，基于双调制，专为现实世界的薄膜特性设计。基于一种新的电子数据处理和高速单色仪，新的FastAcq技术能够在3分钟内完成从190到2100nm的高分辨率样品测量。沿着测量范围不断调整光谱分辨率的可能性使扫描样品更智能和更快。UVISEL Plus还引入了新的校准程序，提供了更快的性能和准确性。
由于其设计中没有旋转元件和光路中没有额外的组件，HORIBA的UVISEL系列相位调制技术已经成为行业标准，为精确的椭偏参数测量提供最纯粹和最有效的偏振调制。光弹性调制器优越的偏振调制能力为测量沉积在玻璃基板上的临界透明层提供了最高的灵敏度。
为增强薄膜测量的灵活性而设计的UVISEL Plus可为50µm以下的样品提供微点，从40到90°的可变角度，自动水平测绘平台和各种附件，使其可伸缩，以满足您的所有应用和预算需求。光谱范围从190到2100 nm仅被两种UVISEL Plus配置覆盖:190-920 nm和近红外扩展至2100 nm。易于升级是UVISEL Plus的一个特点，以满足您未来正在进行的苛刻的应用程序。UVISEL Plus采用最先进的DeltaPsi2软件平台，以及具有直观工作流的Auto-Soft界面，以加速数据收集和分析，UVISEL Plus允许从新手到专家的用户以最高的精度和灵敏度执行薄膜测量。
UVISEL Plus及其FastAcq技术是材料研究和加工、平板显示、微电子和光伏领域中最通用的薄膜厚度和光学常数测量的光谱椭偏仪。欧洲杯足球竞彩
UVISEL Plus被认为是最终材料科学的参考椭偏仪。欧洲杯足球竞彩欧洲杯线上买球
UVISEL Plus配有现场安装和培训、技术支持和应用支持，以帮助优化您的薄膜建模。欲了解更多信息，请点击这里http://www.horiba.com/uviselplus