能量色散谱(EDS)的最新一代硅漂移探测器(sdd)。
这些探测器能够进行计数率很高(> 500 kcps)的能量分辨率值,主要是由于在电子和材料特性的改进。这些探测器使用氮化硅窗口,提供更高的透明度和更健壮的聚合物窗口。示例演示解释说,现在可以做高速数据收集而不影响数据的质量。我们还将讨论改进我们使用电子背散射衍射(ebd)获得的数据在高速和开发后期处理功能,使更好的数据质量和结果。后处理程序基于我们的新OIM分析™软件、EBSD模式的质量,EDS anti-grains光谱分析,可以提高极大地帮助用户得到最优的结果。