TeraView在美国加州帕萨迪纳举行的国际测试和故障分析学会(ISTFA)会议上，AMD公司和英国TeraView公司的团队联合发表了一篇论文。该论文由AMD新加坡公司的Bernice Zee女士在活动上发表。
这篇论文是两家公司合作的结果，介绍了TeraView公司的光电太赫兹脉冲反射计(EOTPR)专利技术在AMD最新的2.5D高端图形芯片组中快速、准确地隔离故障定位的能力。
TeraView半导体产品经理和应用经理Jesse Alton博士评论道:“我们很高兴与AMD合作，突出EOTPR在解决先进IC封装技术中具有挑战性问题的能力，我们很高兴发表了这篇联合论文。”
TeraView半导体业务副总裁Martin Igarashi表示。“很高兴看到EOTPR技术在这次会议上获得了更广泛的行业认可。这不仅体现在AMD的这篇论文上，还体现在ASE的一篇与EOTPR相关的论文上，以及3次教程会议上，都提到了EOTPR是解决先进IC封装问题的关键技术。”
伊斯坦伊省AMD和其他客户的工作是在与行业客户合作时，Teraview的协作方法的优秀示例。我们利用与Zee女士等经验丰富的行业人员合作，这反过来又帮助我们更好地优化了我们独特的EOTPR解决方案，以满足客户的需求。
Dr. Don Arnone, TeraView的首席执行官。